WTS-677
- 泛用邏輯IC檢測裝置
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WTS-677是採用最新型的結構,設計為測試泛用邏輯 IC而開發出來的測試裝置。
Tester in Test Head的結構,實現了高速,省空間且價美等優點。
不單單只有泛用邏輯IC,WTS-677也能應對 Linear Device IC的檢測(實裝Option Degitizer時)｡
WTS-677因特化於針對邏輯IC的測試進而大幅強化省電化的功效｡
産品規格
| 能同時檢測的芯片數 | 標準2個～32個 |
| 高速數位 I/O Pin | 標準500Mbps, 高速Serial 2Gbps |
| Panel Driver輸出判定Pin | ±8V ±20V ±60V |
| 對應Device | 泛用邏輯IC |
| 可同時並行測試數 | 1/2/4/8/16/32 |
| 最大構成 | IO Board : 10 Slot (Max. 10 Slot) |
| OS | Tester Computer : Windows 7 |
| Test Program | Microsoft Visual Studio 2008, C# |