高信頼機器を提供する企業各種デバイスの評価・不良解析・選別の作業を承ります。
ご要望がございましたら、お気軽に相談下さい。
保有装置の一例
テストシステム
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高速LSIテスタ
＆ウェハープローバー
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LCDドライバー用テスタ他各種保有いたしております。
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製品のPass/Failのみでなく各種解析ソフトウェアを準備しております。
バーンイン炉 -70℃～180℃対応可能
各種測定器の一例
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40Gサンプリング
オシロスコープ
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ノイズシュミレーター
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スペクトラムアナライザー
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顕微鏡各種
レーザーマーキングも保有しているため印字も可能
評価実績
| 国内外の自動車用 マイクロコンピュータの 特性試験 |
内蔵Flash・SRAMメモリ、 CPU、各種周辺とIOの動作マージンテスト及びリーク電流を含む寿命試験 |
|---|---|
| DRAM、SRAM |
フェイルビット解析、動作マージンテスト（V SHMOO） |
| Flash ROMの 特性試験と選別 |
E/W耐久試験、VTHトリミングデータ相関 |
| アナログICの 特性試験と選別 |
オペアンプのオフセット電圧測定 |
| ADDA |
オフセット電圧測定、ゲイン電圧測定と選別、INL,DNLなどの非直線性試験 |
| ディスクリート デバイス特性選別 |
ゲートドレイン間リーク電流テスト、ゲートソース間リーク電流テスト、ドレインソース間リーク電流テスト |
| IGBT |
短絡試験、逆電圧復旧時間測定、L負荷テスト |
| LCDドライバ |
階調テスト |
| その他 |
各種ES品評価、クロック同期系のデバイス入力クロックのチャタリング耐量測定 |
試験用ボードと試験プログラムの設計・製作も承ります。