微細構造を高精細に可視化
最小空間解像度5μm、最大検出解像度≤10μm。ワイヤボンディング不具合、BGA内部のボイド、積層部の微細クラックなどの観察に対応します。
3D X-RAY CT SCANNING SERVICE
目に見えない微細な内部構造を、非破壊で高精細に可視化。WTS-CT130による撮像に特化し、短納期・低コストでデータをご提供します。

WHY WINTEST
半導体・精密部品の不良確認から樹脂、生体標本、地質サンプルまで。
高精細撮像とスピード対応を両立します。
最小空間解像度5μm、最大検出解像度≤10μm。ワイヤボンディング不具合、BGA内部のボイド、積層部の微細クラックなどの観察に対応します。
分析工程を設けず、撮像データの取得・提供に集中。サンプル受領からデータ納品までのリードタイム短縮を目指します。
保持治具(架台)の自社設計体制を活用し、対象ワークの形状や撮像目的に応じた保持方法をご相談いただけます。

WTS-CT130
130kVマイクロフォーカスX線源と高解像度CMOS FPDを搭載したWTS-CT130を使用します。
APPLICATIONS
撮影可否は対象ワークと目的を確認したうえで事前にご相談させていただきます。
内部欠陥、ワイヤボンディング、BGA、接続状態の確認など。
ひび割れ、気泡など内部状態の非破壊観察。
解剖学・生理学用途などの内部構造観察。
クラック、気泡、内部空隙などの確認。
根管、内部構造、接合状態などの観察。
内部細孔のサイズ、形態、分布の観察。
SCAN EXAMPLES
画像をクリックすると拡大表示します。
撮像例 01
撮像例 02
撮像例 03
撮像例 04
歯・内部構造
地質サンプル
歯・3D/断面表示
インプラント
各種サンプル掲載画像は撮像例です。対象物の材質・形状・サイズにより撮像条件は異なります。
SERVICE FLOW
経験豊富なエンジニアが対象ワークと撮像目的を確認し、条件調整のうえで撮像を実施します。
撮影目的、サンプルサイズ・材質、希望納期、希望データ形式などをお知らせください。
技術・営業担当が撮像可否と条件を確認し、工数に基づく見積書を提出します。
ご発注後、破損・腐食・腐敗などを防止した状態でサンプルをご送付ください。
事前に調整した条件に沿って撮像を実施。不明点があれば担当者より確認します。
断面画像やボリュームデータを指定媒体に保存し、サンプルとあわせて返却します。