ウインテスト株式会社
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有機EL/LCD/LCOS/CCD/CISアレイ・ウエハ検査装置
WTS-311NX
WTS-311
デジタル出力CIS検査装置
WTS-377
WTS-347
アナログ・ミックスドシグナルIC検査装置

WTS-750/800

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WTS-311NX ●ハイエンドCCD/CMOSイメージセンサーウエファ・ファイナル検査装置
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WTS-311NX
 ハイエンドCMOSイメージセンサーデバイストレンドを見越し、WTS-311をベースに、ロジックテストの対応、高周波での画素データ取り込み、複数デバイス同時測定、高速のデータ転送、高速の画像処理などの機能を大幅に強化し、WTS-311NXが開発されました。
　対応デバイス ： ハイエンドCCD、CMOSイメージセンサー
　同時測定デバイス数 ：

最大4個
　高速デジタルI/Oピン ：

200MHz、最大256ピン
　駆動電圧 ：

−1.5V〜+6.5V
　パーピンソース電源メーター ：

±60V/±250mA 24ch、±60V/±25mA 24ch
　画素データ取り込み ：

アナログ80MHz、デジタル200MHz、最大16ch、3億8400万画素/ch
　高速シリアルデータ取り込み ：

多種のLVDSプロトコルに対応
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