ウインテスト株式会社：検査装置とは＜当社製品の使用用途＞

お問い合わせ	Site Map	トップ

当社製品は、最先端デバイスの検査に使われております。
低温ポリシリコン型TFT液晶、高温ポリシリコン型TFT液晶、LCOS、有機EL等のフラットパネルディスプレイ並びにCCD/CIS撮像素子の製造工程における各検査工程で使用される検査装置の開発、設計、販売並びに技術サポートであります。当社の製品を組み合わせることにより、フラットパネルディスプレイについてはアレイ検査から表示検査まで、撮像素子についてはシリコンウェファ検査からパッケージ完成品検査まで同じ装置で検査できます。
携帯電話やデジタルカメラからスタジオ用一眼レフカメラのCCD、CMOSイメージセンサ、超小型液晶、ノートパソコンの液晶、プロジェクションテレビなどの大型モニターに至るまで、私たちの検査装置を経た商品はたくさんあります。

フラットパネルディスプレイ製造工程

前工程

（液晶封入前のアレイ基板製作）

アレイテスト

（表示画質検査）

セル・アセンブリ

（電気的な画素と周辺回路検査）

セル・テスト

（有機EL、液晶、対向基板の組み立て）

モジュールアセンブリ

（偏向、保護ﾌｨﾙﾑ、ﾊﾞｯｸﾗｲﾄ、ｹｰｽ組み立て）

モジュール・テスト

（完成品の画質検査）

出　荷

撮像素子/半導体製造工程

前工程

シリコンウェファ検査

パッケージ組立

パッケージ完成品検査

出　荷

　は、

　の
　　　　検査装置が使われております。