ウインテスト株式会社
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経営指針
ウインテストの強み
ごあいさつ
会社概要
海外代理店／技術提携先
沿革
沿革
1993/08 ： ウインテスト(有)を横浜市中区弁天通に設立
代表取締役　奈良　彰治（資本金　300万円)
1994/12 ：

WTS-101A　アモルファスTFT用アレイ自動検査装置を開発、販売開始
1995/06 ：

横浜市中区花咲町に本店移転
WTS-103C 　低温ポリシリコンTFTアレイ、CCD/LCD自動検査装置を開発
1995/07 ：

株式会社に組織変更（資本金1,000万円）
1996/07 ：

低温ポリシリコン、LCOSのアレイ検査装置WTS-103Cを出荷
1998/03 ：

横浜市中区曙町に本店移転
売上高が前年比約4倍に
1999/05 ：

資本金を4,000万円に増資
WTS-211　CCD/LCD自動検査装置を開発、販売開始
2000/03 ：

海外(韓国、台湾）マーケットで営業開始
2000/07 ：

有機ELディスプレイの評価装置及び評価方法の特許申請
2000/11 ：

資本金を2億3500万円に増資(第三者割当増資)
2001/10 ：

有機EL専用アレイ検査装置の出荷開始
2002/03 ：

海外向け、低温ポリシリコン型液晶アレイ検査装置の出荷開始
2003/06 ：

有機ELディスプレイの評価装置及び評価方法の特許が登録される
2003/09 ：

株式会社東京証券取引所マザーズ市場上場
資本金を5億1,200万円に増資
2003/09 ：

WTS-311　CCD/CMOSイメージセンサー/有機EL/LCD/LCOS自動検査装置を開発、販売開始
2004/02 ：

アクティブマトリクス基板の検査方法及び検査装置の特許が登録される
2004/02 ：

横浜市西区北幸に本社事務所移転
2005/08 ：

WTS-700　アナログ・ミックスドシグナルIC自動検査装置を開発、販売開始
2006/07 ：

海外向け、有機EL専用アレイ検査装置の出荷開始
2007/12 ： WTS-347　デジタル出力CMOSイメージセンサー自動検査装置を開発、販売開始
2008/04 ： 第三者割当による新株式の発行
資本金を9億9,710万円に増資
2008/12 ：

WTS-750/800　アナログ・ミックスドシグナルIC自動検査装置を開発、販売開始
2009/03 ：

WTS-750/800用オプションHVU(2000V/30mA), HCU(500A/20V)を開発、販売開始
2009/12 ：

WTS-577 LCD/PDP/有機ELドライバIC自動検査装置を販売開始
2010/04 ：

横浜市西区平沼に本社事務所移転
2010/12 ：

WTS-311NX　ハイエンドCCD/CMOSイメージセンサー自動検査装置を開発、販売開始
2010/12 ：

WTS-377　デジタル出力CMOSイメージセンサー自動検査装置を開発、販売開始
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